EMI近場測試是一種測試電子設備的電磁兼容性（EMC）的方法，它通過在設備周圍設置接近于設備工作狀態的電磁場來模擬設備運行時的情況，然后通過測試設備的敏感性來評估設備的EMC。
這種測試通常用于評估設備的EMC設計，確定設備的故障和干擾源并指導設備的調整和維護。在EMI近場測試中，測試設備通常需要放置在一種類似于電磁屏蔽室的環境中，以確保測試環境的準確性和可重復性。此外，測試儀器需要具備高度的靈敏度和準確性，以確保準確捕捉和測量局部電磁干擾信號。
EMI近場測試是可用于EMI排查的一種測量，因為它不要求測試站點提供專門的條件就能查出能量源。然而，一致性測試是在遠場中進行的，而不是近場。人們通常不會使用遠場，因為有太多的變量讓它變得復雜起來：遠場信號的強度不僅取決于源的強度，而且取決于輻射機制以及可能采取的屏蔽或濾波措施。
根據經驗需要記住，如果能觀察遠場中的信號，那么應該能看到近場中的相同信號。（然而，能觀察到近場中的信號而看不到遠場中的相同信號是很可能的）
近場探針實際上就是設計用于拾取磁場（H場）或電場（E場）變化的天線。一般來說，近場探針沒有校準數據，因此它們適合用于相對測量。如果對用于測量H場和E場變化的探針不熟悉，那么了解一些近場探針設計和使用方法：
H場（磁場）探針具有獨特的環路設計，重要的是，H場探針的方向是有利于環路平面與待測導體保持一致的，這樣布置的環路可以使磁通量線直接穿過環路。
環路大小決定了靈敏度以及測量面積，因此在使用這類探針隔離能量源時必須十分小心。近場探針套件通常包含許多不同的環路大小，以便使用逐漸減小的環路尺寸來縮小測量面積。
